透射电子显微镜

2018-11-23          发布：[科学研究院]张帅

1、设备型号：

      日立H-8100透射电子显微镜，美国EDX GENESIS XM-2能谱仪、德国OSIS Quemesa CCD照相系统.

2、性能指标：

      H-8100透射电镜 ：线分辨率0.144nm，点分辨率0.233nm，加速电压75-200KV，放大倍数100—70万倍(200KV)，试样最大倾角±30度。

     GENESIS XM-2型能谱仪： Si(Li)超薄窗口能够探测到低至Be以上的所有元素，分辨率优于133eV.

     Quemesa CCD照相系统： 1100万像素摄像头，闪烁体区域是72mm× 48mm。

3、主要功能：

　　研究固态物质显微形貌、晶体缺陷、微区晶格缺陷对应结构电子衍射分析、微区元素成分分析。特别是纳米材料的粒度分布、结构、形态、成分并拍出高分辨高质量的图像及各种矿物晶体的高分辨晶格条纹像。